仕上电子取得半导体器件的薄膜表面质量检测方法及系统专利

金融界2024年12月31日消息，国家知识产权局信息显示，深圳仕上电子科技股份有限公司取得一项名为“半导体器件的薄膜表面质量检测方法及系统”的专利，授权公告号 CN 118763014 B，申请日期为2024年9月。
天眼查资料显示，深圳仕上电子科技股份有限公司，成立于2008年，位于深圳市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。
企业注册资本3000万人民币，实缴资本3000万人民币。
通过天眼查大数据分析，深圳仕上电子科技股份有限公司共对外投资了4家企业，知识产权方面有商标信息8条，专利信息92条，此外企业还拥有行政许可19个。
本文源自：金融界作者：情报员